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军用电子元器件超期复验【广电计量检测】
IC20200426 | 2021-09-17 19:49:08    阅读:739   发布文章

元器件超期复验

 

       元器件的超期复验需按照超过有效存储期时间的长短进行分类。元器件的超期复验超过有效储存期的时间分为A、B、C三类。

1、储存期已超过有效储存期,但未超过1.3倍的为A类。

2、储存期已超过有效储存期1.3倍,但未超过1.7倍的为B类。

3、储存期已超过有效储存期1.7倍,但未超过2.0倍的为C类。

除非另有规定,超过有效储存期2.0倍的元器件不得进行超期复验;对于已通过了A、B类超期复验,而且其总储存期未超过有效储存期2.0倍的元器件,允许按C类进行第二次超期复验;已经过C类超期复验的元器件,不得再次进行超期复验。

通常情况下,储存期超过有效储存期的元器件必须按相关技术文件的检验过程进行复验,通过复验的元器件,才能作为合格品装机使用,未经复验的超期元器件不得装机使用。超过有效储存期2.0倍的元器件不得进行超期复验。

在复验过程中发现致命缺陷(功能失效)或严重缺陷的元器件,应进行失效分析;如果分析结果表明缺陷为批次性,则同一生产批的元器件不得用于型号产品。

广电计量检测(GRGT应用于半导体制造、通信、智能⽹联等⾏业的芯⽚企业提供效快速的原材料、电元器件、PCBPCBA失效分析服务,满足客户在半导体设计、制造和应用中的缺陷定位、失效分析及可靠性验证需求。

广电计量可靠性与环境试验中心具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力,可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。

 

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