集成电路、微波器件、光电器件国产化验证

虽然，我国已在元器件国产化替代方面加大投入并取得了很大进展，但是由于各单位在元器件国产化替代方面执行力度不一，元器件国产化替代仍存在一些问题。

广电计量检测（GRGT）为应用于半导体制造、通信、智能⽹联等⾏业的芯⽚企业提供高效快速的原材料、电子元器件、PCB、PCBA失效分析服务，满足客户在半导体设计、制造和应用中的缺陷定位、失效分析及可靠性验证需求。

广电计量可靠性与环境试验中心具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。

广电计量-器件检测分析能力：

性能测试：电特性曲线量测、微探针台、器件测试；

可靠性测试：RA、可靠性寿命验证、ESD静电测试；  

无损检测分析：X射线****、声学扫描显微镜、光学显微镜、粒子碰撞噪声、检漏； 

电性能分析：电特性曲线量测、微探针台、器件测试；

破坏性分析：水汽及内部气体成份、芯片开封、切片、去层、推拉力测试(WBS、WBP)等 ；

失效分析：失效点定位、芯片去层、微观检查、电路确认与失效机理判定； 

精密显微镜分析：扫描电子显微镜等、双束聚焦离子显微镜FIB；装验证、热阻测试。

器件涵盖范围：

处理器和高速器件 ：CPU、MCU、DSP；

存储器系列： Sram、flash、dram、 eprom、eeprom、 fifo ；

模拟、数模混合电路 ：AD/DA、运放；

可编程逻辑器件 ：FPGA、CPLD ；

电源类器件 ：DC-DC、LDO；

光电耦合器、分立器件、微波器件等

*博客内容为网友个人发布，仅代表博主个人观点，如有侵权请联系工作人员删除。